IC芯片檢測

集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件,采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線(xiàn)互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內,成為具有所需電路功能的微型結構;其中所有元件在結構上已組成一個(gè)整體,使電子元件向著(zhù)微小型化、低功耗和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。



將IC芯片內部結構"透明化",缺陷更易尋找


通用型穿透原理將IC芯片內部結構實(shí)時(shí)以2D圖像呈現出來(lái),還可以以不同的視角檢測IC芯片內部。

將IC芯片內部結構"透明化"放大,缺陷更易尋找!

應用范圍:適用于對穿透能力要求不高的產(chǎn)品檢測,例如PCB電路板、IC芯片、IGBT半導體、LED燈等小型電子產(chǎn)品

功能介紹:一鍵CNC編程自動(dòng)檢測、BGA氣泡測量面積與空洞率、金線(xiàn)長(cháng)度寬度測量、可視化導航界面(精準定位檢測位置)、X-Ray平板60°旋轉、支持幾何放大200x和系統放大2000x。